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显微鬼成像系统的分辨率研究
朱孝辉1,周伟平1*,张顺辉1,李静宜2,刘明伟11,2
1.湖南科技大学 物理与电子科学学院,湖南 湘潭 411201;2.湖南科技大学 化学化工学院,湖南 湘潭 411201
摘要:
传统光学显微镜的分辨率受到波长和物镜数值孔径的限制,难以再有很大的提高.近年来,逐渐发展成熟的鬼成像技术为进一步提高显微成像系统的分辨率带来了新的方法,它通过对探测光路和参考光路信号的关联运算来重建目标物体.本文分析了双臂式显微鬼成像系统各面上的二维光场分布,给出了系统的二阶关联函数并推导出了具体的分辨率公式.通过理论分析和仿真实验,发现系统相比普通光学显微镜能够显著地提高成像的分辨率,并且分辨率随参考臂透镜数值孔径的增大而增大.系统可用于提高光学显微镜或数值孔径受限的光学系统的分辨率.
关键词:  鬼成像  关联成像  分辨率  显微镜
DOI:
分类号:O438.2
基金项目:湖南省教育厅科学研究项目资助(19C0763)
Abstract:
Key words:  
湖南科技大学学报(自然科学版)
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